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2022

9-1

干涉儀是很廣泛的一類(lèi)實(shí)驗(yàn)技術(shù)的總稱(chēng)，其思想在于利用波的疊加性來(lái)獲取波的相位信息，從而獲得實(shí)驗(yàn)所關(guān)心的物理量。干涉儀利用光的干涉，測(cè)定光程差或其他參量的儀器。根據(jù)光的干涉原理制成的一種儀器。干涉儀的應(yīng)用廣泛，主要有如下幾方面：1、長(zhǎng)度測(cè)量在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動(dòng)是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據(jù)條紋的移動(dòng)數(shù)可進(jìn)行長(zhǎng)度的精確比較或絕對(duì)測(cè)量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀羅干涉儀曾被用來(lái)以鎘紅譜線的波長(zhǎng)表示國(guó)際米。2、折射率測(cè)定兩光束的幾...

2022

8-27

紋影法在流體力學(xué)實(shí)驗(yàn)中具有廣泛的應(yīng)用

紋影法，又稱(chēng)紋影技術(shù)，包括黑、白紋影法，彩色紋影法和干涉紋影法，是用紋影儀系統(tǒng)進(jìn)行流場(chǎng)顯示和測(cè)量的常用的光學(xué)方法。紋影法首先由Toepler于1864年提出，并應(yīng)用在光學(xué)玻璃折射率的檢測(cè)中。1952年，Holde和Norht在紋影儀系統(tǒng)上使用白光的分光棱鏡，實(shí)現(xiàn)了彩色紋影成象，擴(kuò)大了紋影技術(shù)的應(yīng)用范圍；1962年，Bland和pelick用紋影法研究了水的壓力和溫度效應(yīng)后指出，紋影法實(shí)用于水洞的流場(chǎng)顯示；1974年，Merzkirch對(duì)可壓縮流場(chǎng)中的紋影技術(shù)進(jìn)行了分類(lèi)，把涉及...

2022

8-24

粒子圖像測(cè)速技術(shù)的特點(diǎn)介紹

粒子圖像測(cè)速（PIV）技術(shù)是一種瞬態(tài)、多點(diǎn)、無(wú)接觸式的流體力學(xué)測(cè)速方法。在流場(chǎng)中散播一些跟蹤性與反光性良好的示蹤粒子；用激光片光照射到所測(cè)流場(chǎng)的切面區(qū)域；通過(guò)成像記錄系統(tǒng)連續(xù)攝取兩次或多次曝光的粒子圖像；再利用圖像互關(guān)方法分析所拍攝的PIV圖像，獲得每一小區(qū)域中粒子圖像的平均位移，由此確定流場(chǎng)切面上整個(gè)區(qū)域的二維流體速度分布。粒子圖像測(cè)速技術(shù)的特點(diǎn)介紹：1、非接觸式測(cè)量一般的流場(chǎng)測(cè)量設(shè)備要求把測(cè)量傳感器一起放入流場(chǎng)中，這樣勢(shì)必要對(duì)流場(chǎng)產(chǎn)生一定的影響，PIV系統(tǒng)很好的解決了這個(gè)...

2022

8-15

光子多普勒測(cè)速儀PDV在沖擊波物理領(lǐng)域的應(yīng)用

光子多普勒測(cè)速法是以激光內(nèi)的多普勒效應(yīng)為原理的速度測(cè)試方法。儀器運(yùn)用邁克爾遜干涉儀原理測(cè)試被測(cè)表面的位移?？蓽y(cè)量出最大速度的實(shí)際數(shù)值，其范圍一般在十余米至幾千米每秒之間。最小速度沒(méi)有限制。速度時(shí)程的時(shí)間分辨率可精確到幾微秒。測(cè)試簡(jiǎn)單有效，而且對(duì)目標(biāo)物表面的質(zhì)量幾乎沒(méi)有限制。光子多普勒速度測(cè)量（PDV）系統(tǒng)是一種新型的激光測(cè)速系統(tǒng)，可廣泛用于沖擊波、爆轟波以及其他短時(shí)高速運(yùn)動(dòng)的測(cè)量。數(shù)據(jù)處理是PDV測(cè)速技術(shù)重要的組成部分，旨在從含有大量噪聲的測(cè)量數(shù)據(jù)中獲得靶面等運(yùn)動(dòng)體的速度信息...

2022

7-23

數(shù)碼光彈儀是使應(yīng)力的測(cè)量轉(zhuǎn)化為光學(xué)的測(cè)量?jī)x器

數(shù)碼光彈儀是采用光學(xué)靈敏性材料制成與實(shí)物相似的模型，在動(dòng)載荷作用下，用圓偏振光照射，在成像地板上直接記錄模型中應(yīng)力等差線的一種光學(xué)測(cè)量方法，它可以真實(shí)地反映出爆破過(guò)程的信息與規(guī)律。態(tài)光彈法研究彈性體內(nèi)動(dòng)態(tài)應(yīng)力和應(yīng)力波傳播規(guī)律,可為瞬態(tài)應(yīng)力現(xiàn)象的理論研究和工程應(yīng)用提供實(shí)驗(yàn)依據(jù)。如在沖擊載荷下的應(yīng)力波傳播和動(dòng)態(tài)應(yīng)力集中問(wèn)題,以及結(jié)構(gòu)中裂紋的擴(kuò)展過(guò)程和規(guī)律等方面做出了重要貢獻(xiàn),在航空航天、機(jī)械制造、土木工程等諸多領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。數(shù)碼光彈儀廣泛應(yīng)用于工程力學(xué)、土木工程、斷裂力學(xué)、巖...

2022

7-21

分析造成激光干涉儀測(cè)量誤差的幾個(gè)因素

激光干涉儀是精度較高的線性位移測(cè)量?jī)x器，其光波可以直接對(duì)米進(jìn)行定義，可溯源至國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。但是我們?cè)谑褂弥型鶗?huì)出現(xiàn)檢測(cè)偏離值，偏離我們的預(yù)估，以至于在高精度檢測(cè)時(shí)，對(duì)設(shè)備產(chǎn)生懷疑。1、阿貝誤差因測(cè)量光學(xué)鏡組的安裝高度不在被測(cè)設(shè)備的運(yùn)動(dòng)軸上引起的測(cè)量誤差稱(chēng)之為阿貝誤差。產(chǎn)生的原因是設(shè)備移動(dòng)時(shí)存在俯仰、扭擺差，因此光學(xué)鏡組與運(yùn)動(dòng)軸偏置距離越遠(yuǎn)，引起的阿貝誤差越大。2、環(huán)境因素環(huán)境補(bǔ)償單元能準(zhǔn)確采集空氣溫度、壓力、相對(duì)濕度信息，基于Edlen公式計(jì)算空氣折射率，以此對(duì)激光波長(zhǎng)進(jìn)行補(bǔ)償...

2022

6-22

你了解紋影法的原理和應(yīng)用嗎？

紋影法，又稱(chēng)紋影技術(shù)，包括黑、白紋影法，彩色紋影法和干涉紋影法，是用紋影儀系統(tǒng)進(jìn)行流場(chǎng)顯示和測(cè)量的常用光學(xué)方法。紋影法具有結(jié)果簡(jiǎn)單，成像技術(shù)好，精度高等優(yōu)勢(shì)，將人眼不可見(jiàn)的流體密度變化轉(zhuǎn)化為光強(qiáng)信息記錄下來(lái)，使得對(duì)流場(chǎng)的觀測(cè)更為直接形象，在流體力學(xué)實(shí)驗(yàn)中具有廣泛的應(yīng)用，可用于觀測(cè)氣流的邊界層、燃燒、激波、氣體內(nèi)的冷熱對(duì)流以及風(fēng)洞或水洞流場(chǎng)。原理：紋影法是力學(xué)實(shí)驗(yàn)中一種常用的光學(xué)觀測(cè)方法，利用光在被測(cè)流場(chǎng)中的折射率梯度正比于流場(chǎng)的氣流密度的原理，將流場(chǎng)中密度梯度的變化轉(zhuǎn)變?yōu)橛涗?..

2022

5-26

LED數(shù)碼光彈儀，用光學(xué)的方法進(jìn)行應(yīng)力測(cè)量

光彈性法是一種光學(xué)應(yīng)力測(cè)量方法。它利用具有雙折射性能的透明材料制作成與實(shí)際工程結(jié)構(gòu)、部件或零件幾何形狀相似的模型，并在模型上施加與實(shí)際部件相似的載荷，根據(jù)光彈性條紋即可計(jì)算模型邊界和內(nèi)部各點(diǎn)的應(yīng)力，再由相似理論換算成原件上的應(yīng)力，其精度能滿足工程設(shè)計(jì)的要求。光彈性法可以測(cè)量幾何形狀與載荷條件較為復(fù)雜的構(gòu)件應(yīng)力，特別是可測(cè)量其它方法難以解決的應(yīng)力集中及內(nèi)部應(yīng)力問(wèn)題。LED數(shù)碼光彈儀是以光彈性法為原理，用光學(xué)的方法進(jìn)行應(yīng)力測(cè)量的儀器，可以研究幾何形狀和載荷條件都比較復(fù)雜的工程構(gòu)件...

2022

4-30

多光譜輻射測(cè)溫儀常見(jiàn)的測(cè)量方法有哪些

多光譜輻射測(cè)溫法(MultispectralRadiationThermometry)是七十年代末才發(fā)展起來(lái)的非接觸測(cè)溫方法,它可以同時(shí)測(cè)量目標(biāo)的真實(shí)溫度及材料光譜發(fā)射率。在高溫材料、復(fù)合材料及燒蝕材料的溫度及熱物性測(cè)試方面極有前景的方法。多光譜測(cè)溫法是在一個(gè)儀器中制成多個(gè)光譜通道，利用多個(gè)光譜的物體輻射亮度測(cè)量信息，再對(duì)得到的數(shù)據(jù)處理而得到物體的溫度和材料光譜發(fā)射率。該方法不需輔助設(shè)備和附加信息，對(duì)被測(cè)對(duì)象亦無(wú)特殊要求，因而特別適合于高溫、甚高溫目標(biāo)的真溫及材料發(fā)射率的同時(shí)...

2022

4-20

光學(xué)干涉儀都有哪些應(yīng)用領(lǐng)域？

干涉儀是利用光學(xué)干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的精密光學(xué)儀器。一般來(lái)說(shuō),只要是利用光干涉的原理來(lái)量測(cè)的儀器便可以稱(chēng)為干涉儀。一般來(lái)說(shuō)，最初入射光先經(jīng)過(guò)某種分束器（部分透射反射鏡）分成單獨(dú)的兩束光，可能有的光束會(huì)經(jīng)過(guò)外界環(huán)境的影響（例如，長(zhǎng)度變化或者經(jīng)過(guò)折射率變化的透明介質(zhì)），然后在另一個(gè)分束器處光束再次符合。得到的光束功率的空間分布就可以用于測(cè)量。光學(xué)干涉儀的應(yīng)用極為廣泛，主要有如下幾方面：1、長(zhǎng)度的精密測(cè)量在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移...

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